メディアの報道によると、米国エネルギー省 (DOE) は最近、長期加速寿命試験に基づいた LED ドライブに関する 3 回目の信頼性レポートを発表しました。米国エネルギー省のソリッドステート照明 (SSL) の研究者らは、加速ストレス試験 (AST) 法がさまざまな過酷な条件下で優れた性能を示したことが最新の結果で確認されたと考えています。さらに、テスト結果と測定された故障要因は、信頼性をさらに向上させるための関連戦略をドライバ開発者に知らせることができます。
よく知られているように、LED ドライバーは、LED コンポーネント自体と同様に、最適な光の品質にとって重要です。適切なドライバー設計により、ちらつきを排除し、均一な照明を提供できます。また、ドライバーは、LED ライトや照明器具で最も誤動作する可能性が高いコンポーネントでもあります。ドライバーの重要性を認識したDOEは、2017年に長期ドライバーテストプロジェクトを開始しました。このプロジェクトには、天井の溝などのデバイスの固定に使用できるシングルチャンネルドライバーとマルチチャンネルドライバーが含まれています。
米国エネルギー省は、これまでに試験プロセスと進捗状況に関する 2 つのレポートを発表しましたが、今回 3 つ目の試験データ レポートが発表されます。このレポートは、AST 条件下で 6000 ～ 7500 時間実行された製品試験結果を対象としています。
実際、業界には何年もの間、通常の動作環境でドライブをテストする時間があまりありません。それどころか、米国エネルギー省とその請負業者である RTI International は、屋内の湿度と温度を一貫して 75 °C に維持した、いわゆる 7575 環境でドライブをテストしました。このテストには、ドライバーのテストが 2 段階含まれており、ドライバーのテストは独立しています。チャネル。 1 段設計の方がコストは安くなりますが、2 段設計に特有の、最初に AC を DC に変換してから電流を調整する別個の回路がありません。

米国エネルギー省の報告書によると、11 個の異なるドライブで実施されたテストでは、すべてのドライブが 7575 環境で 1000 時間実行されました。ドライブが環境室にある場合、ドライブに接続されている LED 負荷は屋外の環境条件下にあるため、AST 環境はドライブにのみ影響します。 DOE は、AST 条件でのランタイムを通常条件でのランタイムにリンクしていませんでした。デバイスの最初のバッチは 1,250 時間の稼働後に故障しましたが、一部のデバイスはまだ動作しています。 4800 時間のテスト後、デバイスの 64% が故障しました。それでも、厳しいテスト環境を考慮すると、これらの結果はすでに非常に良好です。
研究者らは、ほとんどの障害がドライバの第 1 段階、特に力率改善 (PFC) および電磁干渉 (EMI) 抑制回路で発生することを発見しました。ドライバの両方のステージで、MOSFET にも障害があります。この AST は、ドライバー設計を改善できる PFC や MOSFET などの領域を示すだけでなく、通常はドライバーのパフォーマンスを監視することに基づいて障害を予測できることも示します。たとえば、力率とサージ電流を監視することで、初期の故障を事前に検出できます。点滅の増加は、故障が差し迫っていることも示します。
DOE の SSL プログラムは、長年にわたり、ゲートウェイ プロジェクトに基づくアプリケーション シナリオ製品テストやキャリパー プロジェクトに基づく商用製品パフォーマンス テストなど、SSL 分野で重要なテストと研究を実施してきました。